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      電子元器件壓力蒸煮試驗

      一、工作原理:

      將被試元器件放入密封高壓加速老化試驗箱,試驗箱中加入幾個大氣壓的蒸汽強迫濕氣進入元器件的封裝層中,以此來評價元器件的防潮性能,使用這種方法與恒溫、恒濕試樣方法相比較,能在短得的多的時間內對元器件性能作出評價,使元器件的防潮性能在研制階段便可清楚。

      二、主要用途:

      采用加速方式來檢驗器件耐濕、耐熱的能力及可靠性水平。

      三、試驗儀器:

      R-HAST-350高壓加速老化試驗箱(121℃、 0. 215Mpa)、TVR6000 綜測儀

      四、操作規范:

      4.1要嚴格按照R-HAST-350高壓加速老化試驗箱“技術說明書”操作順序操作。

      4.2常規產品規定每季度做一次周期試驗,試驗條件及判據采用或等效采用產品標準;新產品、新工藝、用戶特殊要求產品等按計劃進行。

      4.3采用LTPD的抽樣方法,在第一次試驗不合格時,可采用追加樣品抽樣方法或采用篩選方法重新抽樣,但無論何種方法只能重新抽樣或追加一次。

      4.4LTPD=10%,則抽22只,0 1退,追加抽樣為38只,1 2退。抽樣必須在0QC檢驗合格成品中抽取。

      五、環境條件

      (1)標準狀態

      標準狀態是指預處理,后續處理及試驗中的環境條件。論述如下: .

      環境溫度: 15~35

      相對濕度:  4575%

      (2)判定狀態

      判定狀態是指初測及終測時的環境條件。論述如下:

      環境溫度:  25±3

      相對濕度:  4575%

      六、試驗條件及判據:


      蒸煮試驗

      七、注意事項:

      ①每次做試驗合上槽蓋以前(特別是在循環做試驗情況下),務必檢查槽內水量;
      ②務必保持槽內清潔,經常去除槽內污物;
      ③此試驗臺時間設定較短,務必注意時間的再設定。

      八、高壓加速老化試驗箱簡介:

      HAST高壓加速老化試驗箱是使用在加壓和溫度受控的環境中施加過熱蒸汽的非冷凝(不飽和方法),將外部保護材料、密封劑或外部材料和導體之間通過加速水分滲透的作用進行試驗;一般是在設定的溫度和濕度條件下連續施加壓力來完成的。本設備廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。

      HAST高壓加速老化試驗箱

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